[1]孙伟杰,黄凯龙.换挡机构电路板失效分析与优化[J].机械与电子,2015,(12):64-67.
　SUN Weijie,HUANG Kailong.Gearshift PCB Malfunction Analysis and Optimization[J].Machinery & Electronics,2015,(12):64-67.
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换挡机构电路板失效分析与优化
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《机械与电子》[ISSN:1001-2257/CN:52-1052/TH]

卷:
期数:
2015年12期
页码:
64-67
栏目:
自动控制与检测
出版日期:
2015-12-25

文章信息/Info

Title:
Gearshift PCB Malfunction Analysis and Optimization
文章编号:
1001-2257(2015)12-0064-04
作者:
孙伟杰; 黄凯龙
(上海汽车集团股份有限公司技术中心,上海 201804)
Author(s):
SUN Weijie; HUANG Kailong
(Shanghai Automotive Industry Company Technology Center,Shanghai 201804,China)
关键词:
低阻抗通路;  感性负载;  反电动势;  脉冲
Keywords:
low impedance access;  inductive load;  reverse electromotive;  pulse
分类号:
U463.6
文献标志码:
A
摘要:
换挡机构电子模块失效分析在行业内较少看见。以一个整车试验故障为切入点,分析换挡机构电路板失效的原因。通过分析失效高边开关内、外部原理图,推导潜在失效点,再现故障,挖掘到换挡机构电子模块使用的高边开关在恶劣的整车环境中存在着应用缺陷。提出的电器功率失效分析方法和高边开关应用优化方案可为同行从业者作参考。
Abstract:
Gearshift PCB malfunction analysis is rarely seen in the industry. This paper analyzes gearshift PCB failure from vehicle test failures. By analyzing the schematic diagrams of defects of high side switch, deduced potential defect points, simulated failures, and located application defects of high side switch under harsh vehicle conditions.. The optimized electrical design of electrical appliance power failure and high side switch application proposed in this paper may serve as reference for industry practitioners.

参考文献/References:

[1] 王德权.浅析电子元器件的失效分析技术[J].科技与企业,2013(7):15-16.
[2] Stephane Fraisse. PROFET TM+简介 88[Z].2009.

备注/Memo

备注/Memo:
收稿日期:2015-07-20
作者简介:孙伟杰(1982- ),男,上海人,硕士,工程师,研究方向为动力总成操纵部件; 黄凯龙(1988-),男,福建泉州人,硕士,助理工程师,研究方向为动力总成操纵部件。
更新日期/Last Update: 2019-12-25